红外线热成象通常有两种方式:被动和主动。无源红外热成像中,不需要任何外部热就可以测量目标物体的辐射,所获得的信息可以用于温度测量。在主动红外热成象中,样品会受到外界热的。热传导与材料的热学性质有关,同时也与表面异常有关,从而导致目标表面温度差异。本例中,测量到的辐射来自目标对外界激发的热反应。
利用红外线热像仪测量温度的标定参数是发射率。这个参数表明了目标物体在相同温度下所发出的辐射和黑体所发出的辐射的比值。结果表明,相对于具有相同温度下高发射率的材料,发射率较低的材料发出的红外辐射较少。对于低辐射材料来说,准确的测量辐射速率非常重要。对于发射率较高的物体,所选发射率的微小变化只能引起终表面温度的微小变化。但对于低辐射的物体(如抛光钢或铝),温度测量尤其复杂。由于辐射率变化很小,所以获得的温度会有很大变化。一种通用的发射率测量程序,对目标物进行加热,直到它达到实际工作条件下的温度。热电偶可用于获取参考温度,但在低温环境下,用同样的红外仪器在样品上粘附已知发射率的带子,这种情况更为普遍。前者叫做接触法,后者叫做参考发射率物质法。当热元件的实际温度已知后,可以用红外线仪器再次测量样品,但这次是在物体表面,而非电子胶带上。在被测到实际温度之前,改变发射率的配置。配置的发射率为目标的发射率。这个图表展示了用这种方法在测量时获得的红外图像。可见,胶带有很高的发射率,这就导致了表观温度的升高。
反光温度也是一个重要参数,特别是当目标的反射率较高(材料的低发射率)时。常用的反射温度测量方法有两种:反射法和直接法。反射镜方法更为普遍,因为它更容易应用,并能提供更好的结果。反射镜方法使用校准过的标准反射物,如金属层(95的常数反射率为2到20μm)。通常情况下,铝箔会被弄皱,然后再压平。把反射镜放在红外热像仪的视野中,假定发射率为1,距离为零,则测量反射镜的温度。将反射面温度作为反射温度进行重复测量,得到终反射面温度值。
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